![]() Главная страница Случайная лекция ![]() Мы поможем в написании ваших работ! Порталы: БиологияВойнаГеографияИнформатикаИскусствоИсторияКультураЛингвистикаМатематикаМедицинаОхрана трудаПолитикаПравоПсихологияРелигияТехникаФизикаФилософияЭкономика ![]() Мы поможем в написании ваших работ! |
Несколько примеров интересных областей применения ПЭМ ВР1. Анализ дефектов решетки кристаллов, структуры ядра дислокаций, структуры ассоциаций точечных дефектов, структуры границ зерен, двойников и т.д. 2. Выявление особенностей структуры сложных решеток, или прямой анализ сложных крис- таллических структур в сочетании с рентгеноструктурными исследованиями, изучение антифазных доменов политипных структур. Выше было сказано, что условием получения прямого изображения периодической структуры является прохождение через апертурную диафрагму нескольких сопоставимых по интенсивности дифрагированных пучков, которым векторы дифракции НJ. Если изображение формируется с участием нулевого рефлекса –светлопольное изображение, если без нулевого рефлекса – светлопольное изображение ( рис.28). Если пренебречь аберрациями , то амплитуда суммарной волны на сфокусированном изображении имеет вид:
где АН-амплитуды дифрагированных пучков на выходе из объекта;
Z-толщина образца;
Если s=0, фазовый фактор Рассмотрим простейший случай, когда на выходе из кристалла имеются два пучка, например, нулевой и пучок, отраженный от плоскостей, которым отвечает вектор дифракции Н. В этом случае
Отсюда очевидно, что контраст максимален, если
Дата добавления: 2014-07-19; просмотров: 323; Нарушение авторских прав ![]() Мы поможем в написании ваших работ! |