Студопедия

Главная страница Случайная лекция


Мы поможем в написании ваших работ!

Порталы:

БиологияВойнаГеографияИнформатикаИскусствоИсторияКультураЛингвистикаМатематикаМедицинаОхрана трудаПолитикаПравоПсихологияРелигияТехникаФизикаФилософияЭкономика



Мы поможем в написании ваших работ!




Анализ электронограмм

Читайте также:
  1. I ОСОБЕННОСТИ ВЫБОРА И АНАЛИЗА ПОСТАНОВОЧНОГО МАТЕРИАЛА В КОЛЛЕКТИВЕ.
  2. I. АНАЛИЗ И ПОДГОТОВКА ПРОДОЛЬНОГО ПРОФИЛЯ ПУТИ ДЛЯ ВЫПОЛНЕНИЯ ТЯГОВЫХ РАСЧЕТОВ
  3. I. АНАЛИЗ ТЕКУЩЕГО СОСТОЯНИЯ ВНЕШНЕЙ И ВНУТРЕННЕЙ СРЕДЫ ПРЕДПРИЯТИЯ.
  4. Microsoft Excel. Работа с пакетом анализа. Построение простой регрессии
  5. SWOT – анализ
  6. SWOT- анализ
  7. SWOT-анализ.
  8. Алгоритм анализа профессиональной деятельности
  9. Анализ абсолютных показателей финансовой устойчивости
  10. Анализ автокорреляции остатков

Электронограммы от монокристаллов.

Рассмотрим электронограммы, полученные в проходящем пучке. От наиболее тонких, монокристальных в облучаемом объеме, пленок (10-7 – 10-6) получается точечная электронорамма с рефлексами, образующими правильную сетку, если какое-либо кристаллографическое направление параллельно электронному пучку (рисунок 3).

Иногда наблюдаются также рефлекся, лежащие на некоторых концентрических окружностях, центр которых совпадает с центральным пятном.

При получении электронограмм монокристаллов, имеющих в пределах облучаемого объема разориентации или изгибы атомных плоскостей, соизмеримые с малыми углами дифракции, условие Вульфа-Брэгга может выполняться одновременно для нескольких систем отражающих плоскостей. Причиной возникновения точечной электронограммы является также увеличение углового интервала существования дифракционного максимума из-за малой толщины кристалла. Если размер узла увеличивается из-за разориентировок, величина которых в рассеивающем объеме d, то в отражающее положение могут попасть все плоскости, входящие в зону с осью, параллельной электронному пучку, для которых углы отражения q£d.

Если причина размытия узла – малая толщина кристалла, то отражают все плоскости зоны, для которых углы qБ удовлетворяют неравенству:

где D – толщина пленки (кристалла).

Теперь с учетом равенства (3), становится очевидным, что получающаяся на электронограмме сетка рефлексов есть увеличенное в С раз изображение плоскости обратной решетки, перпендикулярной падающему пучку и проходящей через начало координат.

Если какое-либо важное направление совпадает с осью пучка, симметрия электронограммы совпадает с симметрией плоской сетки центрально-симметричной обратной решетки, перпендикулярной этому направлению. Так как центр симметрии на плоскости эквивалентен оси второго порядка, возможны шесть типов электронограмм со следующей симметрией: 2, 4, 6, mm2, 4m, 6m.

Для исследования кристаллографической структуры ценны точечные электронограммы, снятые по направлениям с наибольшей симметрией.

Если какое-либо важное кристаллографическое направление расположено наклонно к пучку электронов, центром симметрии электронограммы будет не след первичного пучка, а точка пересечения продолжения этой кристаллографической оси с фотопластинкой (рисунок 3б).

В тех случаях, когда сфера Эвальда пересекает узлы плоскости обратной решетки, не проходящей через начало координат, на электронограмме появляются рефлексы, расположенные на окружности, центром которой является след первичного пучка или точка пересечения важного узлового направления с электронограммой.

 


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Электронография | 

Дата добавления: 2014-08-04; просмотров: 390; Нарушение авторских прав




Мы поможем в написании ваших работ!
lektsiopedia.org - Лекциопедия - 2013 год. | Страница сгенерирована за: 0.003 сек.