Факторы, влияющие на надёжность электронной аппаратуры, на

надёжность изделия

При анализе надёжности целесообразно рассматривать три этапа в создании аппаратуры или изделия.

1. Проектирование

2. Изготовление

3. Эксплуатация

Опыт эксплуатации РЭА показывает, что возникающие отказы вызываются следующими основными причинами (факторами):

· недостаточной надежностью комплектующих элементов, а также нарушением разработчиками ТУ на применение элементов;

· схемно-конструктивными и производственно-технологическими недостатками;

· недостатками профилактического обслуживания и нарушениями правил эксплуатации РЭА;

· недостаточной защищенностью РЭА от некоторых внешних воздействий.

Обычно факторы, влияющие на надежность, разделяют на три группы: схемно-конструктивные, производственно-технологические, эксплуатационные.

1.2.1 Факторы, влияющие на надежность при проектировании

1. Количество и качество элементов в системе оказывает влияние на

надёжность. Увеличение количества используемых элементов приводит к резкому ухудшению надёжности аппаратуры. К ухудшению надёжности приводит применение менее надёжных элементов.

1.31. Режим работы элементов. Самые надёжные элементы, работающие в тяжёлом, не предусмотренном для их применения режиме, могут стать источником частых отказов. Для каждого элемента устанавливаются технические условия на режим работы элемента. Необходимо правильно выбрать режимы работы элементов.

1.32. Применение стандартных и унифицированных элементов резко

повышает надёжность системы. Технология производства этих элементов

отработана, надёжность их известна.

1.33. Конструктор должен предусмотреть хороший доступ к блокам, элементам аппаратуры для осмотра, ремонта; предусмотреть сигнализацию

об отказе того или иного элемента.

Основные схемно-конструктивные фак­торы определяются: недостатками схемного и конструктивного решений, принятых в процессе проектирования схем, узлов и блоков аппаратуры;установкой в аппаратуру малонадежных, устаревших типов комплектующих элементов (соответствующий пере­чень таких элементов обычно устанавлива­ется их поставщиками); неправильным при­менением комплектующих элементов и, прежде всего, постановкой элементов в тяжелые электрический, тепловой, ударно-вибрационный и другие режимы работы, не соответствующие ТУ, или недостаточным применением мер защиты от тяжелых ре­жимов работы.

Следует подчеркнуть, что проектирова­ние РЭА является наиболее ответственным этапом обеспечения высокой надежности. Недооценка вопросов надежности в процес­се проектирования приводила в недалеком прошлом к тому, что до 75—85% всех от­казов и неисправностей РЭА в процессе ее эксплуатации возникали из-за ошибок раз-работчиков и недостатков технологии производства. Важнейшим условием создания надежно работающей аппаратуры является тщательный анализ схемно-конструктивных решений и разработка программного обеспечения.

Электронные схемы (узлы), выполняю­щие одни н те же функции, но имеющие схем­но-конструктивные различия, имеют часто существенное различие в показателях на­дежности. Надежнее работают схемы: бо­лее простые по принципу действия и имею­щие меньшее число элементов; допускающие достаточно широкий диапазон изменений и параметров отдельных элементов (не ре­комендуется применять схемы, требующие подбора элементов); у которых выходные параметры незначительно зависят от изме­нения питающих напряжений; имеющие ми­нимальное число органов регулировки и управления; прошедшие всесторонние испы­тания на надежность (в период отработки схемы).

Надежность РЭА в сильной степени за­висит от конструктивного решения и преж­де всего от типа конструкции (крупно- и мелкоблочная, выполненная на интеграль­ных схемах, на электровакуумных или по­лупроводниковых приборах и т.д.); типа монтажа (навесной, пакетный» печатный, и т.д.); способов защиты от вибраций и ударов, перегрева, переохлаждения и т. д. Большей надежностью обладают конструк­ции, состоящие из стандартизованных узлов определенного назначения (интегральные схемы, гибридные схемы и др.). Преиму­щества подобных конструкций определяют­ся возможностями унификации типовых узлов, автоматизации их производства и за­литы от внешних факторов. Важные пер­спективы в повышении надежности РЭА сулит применение больших интегральных схем объединяющих в одном корпусе элек­тронные схемы различного назначения. Обычно считают, что микроминиатюризация большинства узлов РЭА позволяет повысить надежность по сравнению с аппаратурой, выполненной на обычных элементах при навесном монтаже, не менее чем на два порядка. Значительное повышение надежно­сти интегральных схем становится возмож­ным за счет снижения до минимума числа контактов и внутренних соединений, из-за сравнительно небольшого числа технологических операций при изготовлении, за счет герметизации и защиты от многих внешних воздействий, а также благодаря высокой устойчивости к ударно-вибрационным нагрузкам (малая масса и высокая жесткость конструкции) и др.

Большим преимуществом конструиро­вания РЭА на микросхемах является не­большая зависимость интенсивности отка­зов узла от вида схемы при одинаковой в среднем их сложности, что позволяет зна­чительно упростить процедуру расчетов на­дежности и повысить их точность.

Обычно конструктор при проектирова­нии РЭА просматривает и оценивает ряд вариантов, чтобы удовлетворить требова­ниям технического задания. На этом этапе важно оценить надежность каждого из вариантов конструкции, поскольку в усло­виях процесса усложнения РЭА (за счет возложения на нее все большего числа за­дач) надежность конструкции является та­кой же важной характеристикой, как, на­пример, дальность действия, информативность и быстродействие аппаратуры. Пред­варительный анализ надежности различных вариантов конструкции РЭА должен про­водиться службой (группой) надежности предприятия совместно с разработчиками. При современном состоянии теории надеж­ности, опирающейся в значительной мере на вероятностные методы оценки, наиболее эффективным является сравнительный ана­лиз надежности различных вариантов кон­струкции. Недостаточная точность и полно­та исходных статистических данных при сравнительной оценке надежности не силь­но сказывается на окончательных результа­тах и позволяет вместе с тем получить представление о наиболее «слабых звеньях» конструкции и выработать рекомендации по их усилению.

После определения окончательной структуры конструкции и плана размещения узлов (элементов), а также выбора ком­плектующих элементов или унифицирован­ных узлов, проводят расчет надежности схем, позволяющий в большинстве случаев ответить на вопрос: удовлетворяет ли каж­дая схема предъявленным к ней требовани­ям по надежности.

После расчета надежности схем проек­тировщики совместно со службой надежно­сти должны тщательно рассмотреть вариан­ты компоновки узлов (элементов), доби­ваясь при этом прежде всего наибольшей защиты узлов от влияния внешних факто­ров (климатических, ударно-вибрационных, радиационных и др.). При анализе спосо­бов компоновки узлов (элементов) восста­навливаемой РЭА (особенно многократного применения) следует учитывать необходи­мость частого выполнения профилактичес­ких, н том числе и восстановительных, опе­раций. При этом наиболее легкий доступ должен быть обеспечен к тем узлам, кото­рые относятся к слабым звеньям. Только после проведения всех указанных этапов становится возможным провести оконча­тельный анализ надежности аппаратуры в целом.

Конечно, реальные физические нагруз­ки, такие, как, например, тепловые, ударно-вибрационные, становятся окончательно известными только после соответствующих испытаний опытных экземпляров. Па этом завершающем этане оценки надежности может возникнуть необходимость внесения новых изменении в конструкцию РЭА, вплоть до изменении в компоновке узлов (элементов).

Рассмотренный порядок анализа и оценки надежности позволяет избежать многократных дорогостоящих доработок аппаратуры.

Остановимся более подробно на внут­ренних и внешних факторах, которые важ­но учитывать на этапе проектирования.

Рабочий режим элементов (узлов). Рабочий режим элементов (уз­лов) определяется степенью их электриче­ской нагрузки, механической (ударно-вибрационной) нагрузки, окружающей темпе­ратурой, зависящей как от электрической или механической нагрузки, так и от фак­торов внешней среды. В ряде случаев ре­жим работы элементов (узлов) зависит от интенсивности ионизирующих излучении.

Одним из важнейших показателей, оп­ределяющих рабочий режим элементов элек­трической схемы, является коэффициент на­грузки (R_н), который в общем случае пред­ставляет собой отношение рабочей нагруз­ки, действующей на элемент в схеме А, к номинальному значению нагрузкиА_ном, предусмотренному ТУ:

.

Коэффициент электрической нагрузки конденсаторов равен:

где u_p— напряжение, приложенное к кон­денсатору; u_ном — номинальное напря­жение.

Коэффициент электрической нагрузки резисторов равен:

где Р_рас и Р_ном — рассеиваемая и номи­нальная мощности соответственно.

Коэффициент электрической нагрузки полупроводниковых приборов определяется по току, по напряжению и по рассеиваемой мощности (для транзисторов).

Для полупроводниковых диодов значе­ние R_н определяется произведением отно­шений:

где I_д иu_обр— ток через р-п переход и об­ратное напряжение соответственно; I_{д ном},u_{обр ном}— номинальные значения тока че­рез р-п переход и обратного напряжения соответственно.

Для полупроводниковых триодов зна­чение R_н составляет:

Где и — ток коллектора соответ­ственно в схеме и при номинальной нагруз­ке;u_кэ(кб)— напряжение коллектора отно­сительно эмиттера в схеме с общим эмитте­ром (относительно базы в схеме с общей базой);u_{кэ(кб)ном}— номинальное напряже­ние коллектора относительно эмиттера (от­носительно базы).

Опыт эксплуатации РЭА показывает, что элементы надежно работают в случае, когда используются (там, где это возмож­но) недогруженные электрические режимы при значениях . И, наоборот, эле­менты, работающие в режимах с коэффи­циентом нагрузки, близким к единице, срав­нительно малонадежны. Так, в PЛCнаи­более часто отказывают магнетроны, моду­ляторные и модуляторные лампы, клистроны, газовые разрядники. У этих при­боров коэффициент электрической нагрузки близок к единице. Очень надежно работают в схемах полупроводниковые приборы при режиме . Так, рекомендуется в полупроводниковых приборах обеспечи­вать электрический режим, исходя из сле­дующих условий: для транзисторов

для диодов

В этом случае интенсивность отказов полупроводниковых приборов оказывается на один-два порядка ниже по сравнению с приборами, у которых ; для эле­ментов импульсных телемеханических си­стем интенсивность отказов по данным экс­плуатации составляет для диодов 1•10^-81/ч, для маломощных транзисторов 1•10^-7 1/ч, для мощных транзисторов 2•10^-7 1/ч.

Наряду с коэффициентом электрической нагрузки на надежность элементов РЭА в сильной степени влияет температурный ре­жим работы. При этом более тяжелый элек­трический режим работы элементов обычноведет к увеличению выделения тепла, отда­ваемого в окружающее пространство непо­средственно (при наличии кондуктивного теплообмена)в изоляционных мате­риалах — к увеличению тока утечки, облег­чению условий для возникновения пробоя; в моточных изделиях — к разрушению эма­левой изоляции проводов и как следствие к появлению короткозамкнутых витков и т. д.

Надежность основных видов изделий электронной техники и электротехники

Основным источником отказов РЭА яв­ляются отказы элементов электронных схем. Во многих случаях отказы изделий элект­ронной техники и электротехники достига­ют, а в ряде случаев и превышают 20—30% всех отказов, иногда превышая число от­казов за счет производственно-технологи­ческих и схемно-конструктивных недостат­ков. Поэтому всегда нужно знать меха­низмы и причины отказов основных ви­дов этих изделий. Отказы других конструктивных элементов РЭА возникают сравнительно редко и в пределах срока службы не определяют ее надежности.

В зависимости от сложности конструк­ции и чувствительности к воздействию внешних условий изделия электронной тех­ники и электротехники далеко не равно­прочны и имеют часто специфические ме­ханизмы нарушения работоспособности. Это сказывается и на количестве отказов тех или иных элементов в электронных схемах и узлах.

Примерное распределение отказов в РЭА по основным элементам представлено в табл. 1-2-1.1.

Таблица 1-2-1.1

Распределение отказов по видам изделийэлектронной техники и электротехники в аппаратуре

Рассмотрение данных табл.1-2-1.1 показывает, что наибольшее число отказов дают полупроводниковые приборы, резисторы, реле и переключатели. Однако среди этих приборов резисторы работают наиболее надежно, а высокий процент их отказов определяется тем, что их число в аппаратуре велико по сравнению с другими приборами.

Полупроводниковые приборы. По сравнению с ЭВП полупроводниковые приборы (ППП) обладают большей надежностью в условиях воздействия всех факторов, за исключением ионизирующих излучений (гамма-нейронная радиация энергетических

Рис. 1-2-1.1. Зависимость коэффициента интенсивности отказов полупроводниковых приборов от коэффициента электрической нагрузки и температуры.

а – полупроводниковые диоды (1-германиевые, 2-кремниевые); б – германиевые транзисторы; в – кремниевые транзисторы (средние значения λ₀ для германиевых транзисторов составляют 1/ч, для кремниевых - 1/ч).

и силовых ядерных устройств, потоки заряженных частиц п космическом пространстве). Действительно, ППП не имеют накаливаемого катода и вакуумного баллона, обладают компактной, жесткой конструкцией, способной лучше противостоять ударно-вибрационным нагрузкам. Для питания ППП требуются сравнительно небольшие напряжения и токи (рассеиваемые мощности меньше).

Частой причиной внезапных отказов в транзисторах являются кратковременные перенапряжения между коллектором и базой, эмиттером и базой, возникающие при переходных процессах (включение, выключение, изменение электрического режима). Такие отказы характерны для быстродействующих переключающих транзисторов. Постепенные отказы могут возникать при нарушениях герметичности приборов. В этом случае водяные пары, попадая на р-n переход, образуют окисные пленки, что приводит к росту обратного тока и уменьшению коэффициента усиления по току. Наблюдаются случаи растрескивания кристалла при ударах и вибрациях. При повышенных температурах (более 60° С) наблюдается нестабильность параметров. На рис. 1-2-1.1 показана зависимость изменения интенсивности отказов полупроводниковых диодов от температуры окружающей среды. Изменение интенсивности отказов λ_i отнесено к значению интенсивности отказов в номинальном режиме (λ_i0) и при начальнойтемпературе (обычно +20°С). Отношение называется эксплуатационнымкоэффициентом интенсивности отказов.

Резисторы. Значительная часть отказоврезисторов (до 50%) происходит вследствиеобрывов или нарушения контактов в узле,соединяющем токопроводящий элемент свыводами. До 35% отказов происходит из-за перегорания проводящего слоя, причемчасто отказы этого типа являются зависимыми и называются короткими замыканиями пробоями конденсаторов и т. д. Постепенные отказы резисторов из-за ухода их номинала составляют небольшой процент. Особенно ненадежны резисторы поверхностного типа со спиральной нарезкой, которая уменьшает сечение проводящего слоя и увеличивает его длину. При этом повышение номинала ведет к повышению интенсивности отказов.

Высокой надежностью обладают объемные резисторы типа ТВО. Они теплоустойчивы, способны выдерживать большие кратковременные перегрузки, но недостаточно стабильны. Резисторы типа МЛТ более надежны, чем резисторы типа ВС, но у них с увеличением номиналов возрастает интенсивность отказов. Наиболее ненадежны среди резисторов с постоянным сопротивлением проволочные, и их следует применять только в крайних случаях. Ненадежны также регулируемые резисторы

Большинство отказов потенциометров вызывается загрязнением и отравлением скользящего контакта. На рис. 1-2-1.2 представлены графики зависимости интенсивности отказов резисторов от температуры окружающей средыи коэффициента электрической нагрузки.

Рис. 1-2-1.2. Зависимость коэффициента интенсивности отказов резисторов от окружающей температуры и электрической нагрузки.

а — случай объемных резисторов (типа ТВО); б — случай пленочных резисторов (типа МЛТ).

Конденсаторы. Наиболее характерные отказы конденсаторов происходят из-за пропоя диэлектрика и обрыва выводов (до 80% отказов). Для электролитических конденсаторов характерны постепенные отказы, проявляющиеся в виде уменьшения емкости с течением времени.

Надежность конденсаторов в сильной степени зависит от электрической нагрузки и температуры окружающей среды. Интенсивность отказов конденсаторов в зависимости от электрической нагрузки может быть ориентировочно определена по формуле:

,

где — интенсивность отказов при коэффициенте нагрузки, равном единице; — рабочие напряжения на обкладках конденсатора и температура окружающей среды (°С) соответственно; , — номинальные напряжения и температура окружающей среды соответственно; — коэффициент, зависящий от типа конденсаторов (для керамических конденсаторов , для слюдяных конденсаторов )

На рис: 1-2-1.3проведены зависимости отказов конденсаторов от электрическом нагрузки и температуры окружающей среды.

Рис. 1-2-1.3. Зависимость коэффициента интенсивности отказов конденсаторов от окружающей температуры и электрической нагрузки.

– случай керамических конденсаторов (типов КДК. КТК); б — случай конденсаторов со слюдяной изоляцией и прокладками из фольги (типов КСО. ОКСО, кроме типа Г).

Следует заметить, что если дли ЭВП увеличение температуры окружающей среды на 40—60° С приводит к увеличению интенсивности отказов (при данной величине k_н) на несколько десятков процентов, то для конденсаторов — в несколько раз.

Надежность конденсаторов попытается с увеличением толщины диэлектрика. В условиях небольших рабочих температур (до +60° С) надежно работают пленочные конденсаторы. Особенно чувствительны к повышению температуры и рабочих напряжений электролитические конденсаторы. Повышение окружающей температуры выше +40° С на10 —15° С увеличивает интенсивность отказов до 10 раз (при этом значительно падает емкость). При температуресреды +60° С среднее время до отказа этих конденсаторов обычно не превышает 3—4 тыс. ч.

Электромагнитные реле. По характеристикам безотказности электромагнитные реле близки к характеристикам ЭВП. Более надежны мощные реле и менее надежны чувствительные реле и термореле. Основные отказы в реле происходят в контактныхгруппах (до 55%) и в обмотках (до 20%), причем характерными неисправностями являются: обгорание и загрязнение контактов, пробои изоляции обмотки па корпус, обрывы обмотки, разрегулировка, поломка или ослабление контактных пружин.

При оценке надежности реле, а также переключателей и других коммутирующих устройств наряду с интенсивностью отказов, отнесенной к одной контактной паре, пользуются средним числом циклов Т_ц работы (срабатывании, включении) до отказа или интенсивностью отказов на 1 цикл срабатываний. Если известна средняя частота F_срсрабатывании (включении), то средняя наработка до отказа реле (переключателей) составляет: , где F_ср — число срабатываний (включений) в единицу времени. Коэффициент нагрузки реле определяется как отношение рабочего тока, протекающего через контакты реле,к номинальному значению тока. Рекомендуется, чтобы коэффициент нагрузки не,превышал 0,4. Если не применяются защитные диоды для предотвращения обгорания и эрозии контактов реле, вызываемых индуктивной нагрузкой, то должна быть обеспечена двух-трехкратная стойкостьконтактных пар к максимально возможной индуктивной нагрузке.

Реле чувствительны к ударно-вибрационным нагрузкам, причем удары и вибрации могут приводить к сбоям в работе аппаратуры из-за случайного срабатывания реле. При работе аппаратуры в условиях повышенной влажности и пониженного атмосферного давления необходимо применять герметизированные реле. На рис. 1-2-1.4показана зависимость безотказности реле от различных факторов.

Рис. 1-2-1.4. Зависимость надежности реле от различных факторов.

— распределение процента отказов реле в зависимости от различных внешних факторов (1 —вибрации, 2 — удары, 3 — температура. 4 — число

включений при окружающей температуре25° С; 5 — число включении при температуре 125° С; 6 — пребывание и камере 100%-ной влажности при температуре 25° С): б — зависимость коэффициента интенсивности отказов от коэффициента нагрузки.

Трансформаторы, дроссели и катушки индуктивности. Надежность моточных изделий примерно соответствует высоконадежным типам конденсаторов и резисторов.

Большое влияние на работоспособность моточных изделий оказывают значения рабочего тока (плотность тока) и напряжения между обмотками, а также влажность и температура окружающей среды. Повышение температуры всего на 10° С приводит примерно к двукратному снижению тсредней наработки до отказа этих изделий. Для трансформаторов окраска внутренней и внешней поверхностей защитного кожуха черной матовой краской приводит к уменьшению температуры магнитопровода на 5 — 10° С. Недопустим режим работы моточных изделии при температуре окружающейсреды более 80° С. На рис. 1-2-1.5 показана зависимость изменения интенсивности отказов от температуры и коэффициента нагрузки.

Рис. 1-2-1.5. Зависимость коэффициента интенсивности отказов трансформаторов от температуры окружающей среды и коэффициента нагрузки.

— анодные 1 и накальные 2 трансформаторы; б – трансформаторы с изоляцией класса А; в — трансформаторы с изоляцией класса В (эмалевая изоляция).

Ферриты. Эти элементы относятся к высоконадежным: средняя наработка до отказа ферритовых элементов составляет сотни тысяч часов (значение интенсивности отказов составляет 1/ч).

Отказы ферритов являются преимущественно постепенными и вызываются необратимыми изменениями магнитных свойств феррита, обрывами обмоток, разрушением материала феррита. Работоспособность феррита в сильной степени зависит от температуры окружающей среды, повышение которой ведет к сужению петли гистерезиса и уменьшению остаточной индукции. Повышенная влажность отрицательно сказывается на надежности ферритов. Поэтому при конструировании аппаратуры следует принимать меры к влагозащите ферритовых элементов.

Микросхемы. Наряду с широкими возможностями уменьшения габаритов и масс, а также энергопотребления аппаратуры, сконструированной на элементах микроэлектроники и прежде всего на интегральных полупроводниковых и тонкопленочных микросхемах, появляется возможность значительно повысить надежность аппаратуры.

Малые габариты и масса микросхем позволяют широко применить дублирование и в ряде случаев даже многократное резервирование.

Полупроводниковые интегральные микросхемы имеют интенсивность отказов менее 1/ч, причем каждая из таких схем представляет собой интеграцию 10 – 15 дискретных элементов (транзисторов, диодов, резисторов и др.). Аналогичная аппаратура. изготовленная на схемах с дискретными элементами, обладает в среднем в 10—20 раз меньшей надежностью. При совершенствовании конструкции интегральных схем их надежность может быть увеличена по сравнению со схемами на дискретных элементах до 100, а в случае ЭВМ еще больше [16]. Особенно высокий выигрыш в надежности обеспечивает применение больших интегральных схем и микропроцессоров.

Основными причинами отказов интегральных схем являются нарушения во внутренних соединениях (обрывы), короткие замыкания из-за царапин при металлизации, трещины в подложках и местах спая. Эти виды отказов относятся к внезапным и обусловлены главным образом несовершенством технологических операций изготовлении отдельных элементов интегральных схем. Постепенные отказы интегральных схем часто проявляются а увеличении токов утечки и составляют небольшую часть всех отказов этих приборов.

Другая часть отказов интегральных схем связана с резкими изменениями температурного и электрического режимов работы.

Разъемы. Большинство отказов разъемов вызывается недостаточным согласованием гнездовой и штырьковой частей, а также воздействием влаги. Применение направляющих штырей позволяет резко снизить интенсивность отказов разъемов.

Среднее значение интенсивности отказов разъемов составляет (по результатам лабораторных испытаний) около 1/ч; в эксплуатационных условиях это значение может увеличиваться до двух-трех порядков, если разъемы не защищены от влаги и не имеют прочного соединения с помощью направляющих штырей.

Механические и монтажные детали. Радиоэлектронная аппаратура наряду с электронными и электротехническими элементами имеет большое число механических и монтажных деталей, которые также подвержены изнашиванию и старению, аследовательно, могут отказывать. Одной из наиболее частых причин отказов (поломок) механических и монтажных детален является коррозия из-за длительного действия влаги. Нередки отказы из-за усталости механических конструкций при действии ударов и вибраций.

Одной из радикальных мер защиты против коррозии является герметизация или применение уплотнительных соединении, препятствующих проникновению влаги в блоки аппаратуры. Если блоки не герметизированы и не имеют сплошных кожухов, то в случае применения, например, неоднородных металлов, соединяющихся между собой, следует применять, анодирование или другие меры защиты от коррозии.

Пайки. Основным видом отказов паек являются обрыв в месте соединения или наличие прерывистого контакта. Как правило, эти отказы возникают внезапно. Причинами отказов паек служат плохая зачистка выводов, некачественное лужение, недостаточный нагрев соединения во время пайки и др. Эти технологические недостатки проявляются особенно в той РЭА, которая подвержена ударно-вибрационным нагрузкам. Большие преимущества перед паяными соединениями имеют сварные. Так, например, точечная сварка выдерживает разрывное усилие 62,7 Н, в то время как пайка — 3,9 Н [17]. Интенсивность отказов паек в среднем оценивается величиной 1/ч.

Дата добавления: 2014-08-09; просмотров: 1942; Нарушение авторских прав

Мы поможем в написании ваших работ!